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株式会社 豊島製作所  マテリアルシステム事業部
株式会社豊島製作所 マテリアルズシステム事業部Phone0493-24-6774
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受託分析

当社は薄膜材料メーカーとして、長年にわたって多種多様な材料を取り扱ってきました。高品質な材料提供のため、また最先端の材料開発のため、さまざまな分析設備を有し、幅広い材料分析を行い、分析技術の向上に日夜取り組んでいます。また、材料分析だけでなく、埼玉県に計量証明事業の登録を行い、環境分析も実施しています。もしお客様の研究開発において、分析の面でお困りになっていたら、ぜひ当社の受託分析をご活用ください。

→ICP分析における不確かさ評価(PDF)

計量証明事業登録証
計量証明事業登録証

分析種目・装置一覧

ICP-AES : SII SPS3000
ICP-AES

SII SPS3000

ICP-AES(誘導結合プラズマ発光分光法)はダイナミックレンジが広いため主成分から微量成分まで分析可能です。

X線回折装置 (XRD) : Rigaku TTR II
X線回折装置 (XRD)

Rigaku TTR II

試料にX線を照射し、その回折格子のデータから結晶性レベルの解析を行う分析方法です。

蛍光X線分析装置 XRF (EDX) : SHIMADZU EDX-720
蛍光X線分析装置 XRF (EDX)

SHIMADZU EDX-720

さまざまな物質の元素組成の同定と、混入、付着物質の構成元素分析を行います。

粒度分布計量装置 : NIKKISO Microtrac MT3000
粒度分布計量装置

NIKKISO Microtrac MT3000

未知の粉体に対してレーザ光を照射し、その散乱パターンを79個の受光素子で計測し、演算処理することにより粉体の粒度分布(粒子の大きさと量の関係)を求めます。

走査型電子顕微鏡 (SEM) : KEYENCE VE-7800
走査型電子顕微鏡 (SEM)

KEYENCE VE-7800

最大10万倍の倍率にて試料表面の凹凸や形態等の微細構造観察を行います。
また、薄膜の膜厚測定も可能です。

分光光度計 : HITACHI U-1900
分光光度計 : HITACHI U-1900

HITACHI U-1900

溶液中の窒素・りんの定量、薄膜の透過率の計測等が可能です。

熱重量-示差熱分析装置 (TG-DTA)
熱重量-示差熱分析装置 (TG-DTA)

MAC Science 2000S

熱重量測定と示差熱分析とを組み合わせて、単一の装置で同時に測定します。
TG(熱天秤)では試料の酸化、熱分解、脱水などの重量変化、耐熱性の評価や反応速度の分析を行います。
また、DTA信号からは試料の転移温度や反応温度等を検出します。

分析料金表

分析項目 内容 料金
薄膜組成分析 ICP分析 前処理(酸分解のみ) 20,000
特殊前処理 (前処理費に追加) 10,000
定量分析(1元素につき) 5,000
成分分析 ICP分析 分析前処理費用 5,000~20,000
定量分析(1元素につき) 5,000~
定性(不純物)分析 別途見積り
X線回折 試料調製 別途見積り
測定 ピークチャートのみ 15,000
解析 5,000~
蛍光X線分析 試料調製 別途見積り
測定 基本料金(1成分) 5,000
2成分目以降1成分ごと 1,500
粒度分布 測定 1試料につき 15,000
特殊溶媒の場合 別途見積り
光学顕微鏡 試料調製(埋込) 1試料につき 3,000
試料調製(研磨) 1試料につき 10,000
形態・構造観察撮影 1試料につき 7,500
同一試料、1視野追加につき 2,500
走査型電子顕微鏡観察
(SEM)
試料調製(埋込・切断) 1試料につき 3,000
試料調製(研磨) 1試料につき 10,000
形態・構造観察撮影 1視野につき 15,000
報告書作成 1試料につき 1,000
熱分析 熱重量示差熱分析
(TG-DTA)
室温~800℃ 21,000
室温~1000℃ 23,000
室温~1400℃ 28,000
ガス分析 O分析 1試料につき 10,000
S分析 1試料につき 7,500
N分析 1試料につき 7,500
C分析 1試料につき 7,500
RoHS分析 ICP分析 分析前処理費用 10,000
Cd 5,000
Pb 5,000
Cr6+分析(温水抽出) Cr6+ 6,000
Hg 1試料につき 8,000
報告書作成 5,000

※料金には別途消費税が掛かります。